单选题 显微晶粒度的测定,通常需在什么仪器下进行?

A、 硬度计
B、 金相显微镜
C、 拉伸试验机
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单选题 晶粒度级别G与晶粒大小的关系是?

A、G越大,晶粒越粗
B、G越大,晶粒越细
C、G与晶粒大小无关

单选题 截点法测定晶粒度时,测量线与晶粒顶点相截,应计为几个截点?

A、0个
B、1个
C、2个

单选题 直线截点法要求测量线截获的最小截点数为?

A、20个
B、30个
C、50个

单选题 当使用非标准放大倍数(如200倍,非标准100/500倍)测定晶粒度时,需引入的修正参数是?

A、晶粒数量系数
B、放大倍数修正系数(Q_M)
C、截点修正系数

单选题 测定轧材等非等轴晶粒的晶粒度,需在以下哪个截面外的三个方向取样?

A、纵向
B、横向
C、径向

单选题 下列哪种方法是测定等轴晶粒晶粒度最常用的简易方法?

A、截点法
B、比较法
C、面积法

单选题 下列哪种场景更适合用单圆截点法测定晶粒度?

A、晶粒均匀的试样
B、试样不同位置晶粒度有明显差别的
C、非等轴晶粒试样

单选题 三圆截点法采用的测量网格总周长通常为?

A、100mm
B、300mm
C、500mm